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タイトル :X線イメージングによる電子機器の非破壊検査に関する研究
別言語のタイトル :Studies on non-destructive inspection for electrical products by means of X-ray imaging
著者 :寺本, 篤司
作成日 :2008-3-25
収録種別 :博士論文
URI :http://hdl.handle.net/20.500.12099/23509
出現コレクション:工学 乙