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eo_0060.pdf内容の要旨(Summary)340KbAdobe PDFView/Open

Title :X線イメージングによる電子機器の非破壊検査に関する研究
Title alternative :Studies on non-destructive inspection for electrical products by means of X-ray imaging
Authors :寺本, 篤司
Issue Date :25-Mar-2008
Type Local :博士論文
Appears in Collections:Engineering B